SJ 2658.7-1986《半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法》

本标准适用于红外发光二极管辐射通量的测试。

标准信息：

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  2. 中文名称：半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法
  3. 英文名称：Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for radiant flux
  4. 国际标准分类：31.260
  5. 中国标准分类：L53
  6. 标准前缀：SJ
  7. 标准状态：废止
  8. 发布单位：中华人民共和国电子工业部
  9. 发布日期：1986-01-21
  10. 废止日期：2016-04-01
  11. 实施日期：1986-10-01
  12. 页数：1 页

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