首页 - 规范标准 - 产品方法标准 - 正文 SJ/T 10859-1996《铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法》本标准适用于铬版铬膜和胶膜厚度的测试。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法英文名称:Method of testing the chromium film and photorestist thickness of chrome blacks标准分类:产品方法标准国际标准分类:31.180中国标准分类:L30标准前缀:SJ标准状态:现行发布单位:国家标准局发布日期:1996-11-20废止日期:无实施日期:1997-01-01页数:3 页 代替了下列标准(点击展开)GB 7239-1987《铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法》 被下列标准引用(点击展开)SJ/T 11516-2015《薄膜晶体管(TFT)用掩模版规范》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页