首页 - 规范标准 - 完整的产品标准 - 正文 SJ/T 11404-2009《铌酸锂集成光学器件通用规范》主要规定了术语和定义、技术要求、质量和可靠性评定程序、分组的测量方法和试验方法、标志、包装和运输贮存等内容。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:铌酸锂集成光学器件通用规范英文名称:General specifications for LiNbO3 integrated optical devices标准分类:完整的产品标准国际标准分类:33.180中国标准分类:M33标准前缀:SJ标准状态:现行发布单位:CN-SJ发布日期:2009-11-17废止日期:无实施日期:2010-01-01页数:16 页 引用了下列标准(点击展开)GB/T 191-2000《包装储运图示标志》GB/T 2828.1-2003《计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划》SJ 20869-2003《铌酸锂集成光学波导调制器测试方法》GB/T 2423.10-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)》GB/T 2423.5-1995《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击》GB/T 2423.28-2005《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验T:锡焊》GB/T 2423.22-2012《环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化》GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》GB/T 18310.4-2001《纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-4部分:试验 光纤/光缆保持力》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页