SJ/T 2658.5-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻》
本部分规定了半导体红外发射二极管串联电阻的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
标准信息:
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- 中文名称:半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
- 英文名称:Mmeasuring method for semiconductor infrared emitting diode--Part 5:Series resistance
- 标准分类:通用方法标准
- 国际标准分类:31.080
- 中国标准分类:L53
- 标准前缀:SJ
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国工业和信息化部
- 发布日期:2015-10-10
- 废止日期:无
- 实施日期:2016-04-01
- 页数:6 页
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