SJ/T 11765-2020《晶体管低频噪声参数测试方法》
本标准规定了晶体管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。br />本标准适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行。
标准信息:
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- 中文名称:晶体管低频噪声参数测试方法
- 英文名称:Measurement method of low-frequency noise parameters for transistors
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.080.30
- 中国标准分类:L42;L44
- 标准前缀:SJ/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国工业和信息化部
- 发布日期:2020-12-09
- 废止日期:无
- 实施日期:2021-04-01
- 页数:12 页
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