首页 - 规范标准 - 产品方法标准 - 正文 SJ/T 11767-2020《二极管低频噪声参数测试方法》本标准规定了二极管11Iz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:二极管低频噪声参数测试方法英文名称:Measurement method of low-frequency noise parameters for diodes标准分类:产品方法标准国际标准分类:31.080.01中国标准分类:L41标准前缀:SJ/T标准状态:现行发布单位:中华人民共和国工业和信息化部发布日期:2020-12-09废止日期:无实施日期:2021-04-01页数:12 页 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页