YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》

本部分规定了TD-SCDMA/WCDMA数字蜂窝移动通信网UICC-ME(Cu)接口的物理、电气和逻辑特性的测试方法和预期结果。具体测试内容包括Cu接口物理特性的测试、Cu接口电气特性的测试、初始通信建立的测试、传输协议测试以及独立于应用的程序的测试等。本部分适用于TD-SCDMA移动通信网UICC与终端间Cu接口的测试,也适用于WCDMA数字蜂窝移动通信网UICC与终端间Cu接口的测试。CDMA移动通信终端所使用的UICC卡可参照使用。

标准信息:

  1. 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。
  2. 中文名称:TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性
  3. 英文名称:TD-SCDMA/WCDMA Digital Cellular Mobile telecommunication Network Test Methods for UICC-ME (Cu)Interf
  4. 标准分类:产品方法标准
  5. 国际标准分类:33.060
  6. 中国标准分类:M36
  7. 标准前缀:YD/T
  8. 标准状态:现行
  9. 发布单位:中华人民共和国工业和信息化部
  10. 发布日期:2011-12-20
  11. 废止日期:
  12. 实施日期:2012-02-01
  13. 页数:55 页
  • 第1页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第1页
  • 第2页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第2页
  • 第3页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第3页
  • 第4页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第4页
  • 第5页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第5页
  • 第6页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第6页
  • 第7页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第7页
  • 第8页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第8页
  • 第9页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第9页
  • 第10页


    YD/T 1763.1-2011《TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡(UICC)与终端间Cu接口测试方法 第1部分:物理、电气和逻辑特性》标准预览第10页