YS/T 37.2-2018《高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量》

本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法。
本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定，测定范围：0.00001％～0.00010％。