首页 - 规范标准 - 通用基础标准 - 正文 GB/T 22461-2008《表面化学分析 词汇》本标准定义的词汇适用于表面化学分析。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:表面化学分析 词汇英文名称:Surface chemical analysis--Vocabulary标准分类:通用基础标准国际标准分类:01.040.71中国标准分类:G04标准前缀:GB/T标准状态:现行发布单位:CN-GB发布日期:2008-10-30废止日期:无实施日期:2009-06-01页数:59 页 被下列标准引用(点击展开)GB/Z 32494-2016《表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析》GB/T 31472-2015《X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南》GB/T 31470-2015《俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则》GB/T 29732-2013《表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准》GB/T 29731-2013《表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准》GB/T 28632-2012《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 》GB/T 28894-2012《表面化学分析 分析前样品的处理》GB/T 28893-2012《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》GB/T 26533-2011《俄歇电子能谱分析方法通则》GB/T 25188-2010《硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法》GB/T 25187-2010《表面化学分析 – 俄歇电子能谱 – 选择仪器性能参数的表述》GB/T 25186-2010《表面化学分析 — 二次离子质谱 – 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子》GB/T 25185-2010《表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》GB/T 25184-2010《X射线光电子能谱仪检定方法》GB/T 22572-2008《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》GB/T 22571-2008《表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准》GB/T 22462-2008《钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页