GB/T 5594.1-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
标准信息:
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- 中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- 英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.030
- 中国标准分类:L32
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:CN-GB
- 发布日期:1985-11-27
- 废止日期:无
- 实施日期:1986-12-01
- 页数:1 页
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