首页 - 规范标准 - 完整的产品标准 - 正文 SJ/T 11553-2015《93%氧化铝真空电子用陶瓷》本标准规定了真空电子器件专用93%氧化铝瓷的定义、性能要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。标准信息: 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。中文名称:93%氧化铝真空电子用陶瓷英文名称:93% Al2O3 ceramics for vacuum electronics device标准分类:完整的产品标准国际标准分类:01.040.81中国标准分类:Q33标准前缀:SJ标准状态:现行发布单位:中华人民共和国工业和信息化部发布日期:2015-10-10废止日期:无实施日期:2016-04-01页数:8 页 引用了下列标准(点击展开)SJ/T 10742-1996《电子陶瓷公差》GB/T 9531.7-1988《F类瓷件技术条件》GB/T 9531.6-1988《E类瓷件技术条件》GB/T 9531.5-1988《D类瓷件技术条件》GB/T 9531.4-1988《C类瓷件技术条件》GB/T 9531.3-1988《B类瓷件技术条件》GB/T 9531.2-1988《A类瓷件技术条件》GB/T 9530-1988《电子陶瓷名词术语》GB/T 6609.9-2004《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 新亚铜灵光度法测定氧化铜含量》GB/T 5597-1999《固体电介质微波复介电常数的测试方法》GB/T 5594.8-2015《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法》GB/T 5594.5-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》GB/T 5594.4-2015《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》GB/T 5594.1-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法》GB/T 5593-2015《电子元器件结构陶瓷材料》GB/T 2828.1-2012《计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划》GB/T 25995-2010《精细陶瓷密度和显气孔率试验方法》GB/T 2421.1-2008《电工电子产品环境试验 概述和指南》GB/T 22588-2008《闪光法测量热扩散系数或导热系数》GB/T 16535-2008《精细陶瓷线热膨胀系数试验方法 顶杆法》GB/T 16534-2009《精细陶瓷室温硬度试验方法》GB/T 1031-2009《产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值》 在线预览(点击展开)第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页