GB/T 5594.5-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法》

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。

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中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volu
标准分类：产品方法标准
国际标准分类：31.030
中国标准分类：L32
标准前缀：GB/T
标准状态：现行
发布单位：CN-GB
发布日期：1985-11-27
废止日期：无
实施日期：1986-12-01
页数：3 页