GB/T 14619-2013《厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)也可参照使用。
标准信息:
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- 中文名称:厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
- 英文名称:Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
- 标准分类:完整的产品标准
- 国际标准分类:31.030
- 中国标准分类:L90
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2013-11-12
- 废止日期:无
- 实施日期:2014-04-15
- 页数:15 页
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