GB/T 5594.4-2015《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》
GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。
本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH,温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
标准信息:
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- 中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
- 英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Te
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.030
- 中国标准分类:L90
- 标准前缀:GB/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
- 发布日期:2015-05-15
- 废止日期:无
- 实施日期:2016-01-01
- 页数:9 页
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