GB/T 5594.8-2015《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构的测定方法》

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。
本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。
本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

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中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构的测定方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Te
标准分类：产品方法标准
国际标准分类：31.030
中国标准分类：L90
标准前缀：GB/T
标准状态：现行
发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期：2015-05-15
废止日期：无
实施日期：2016-01-01
页数：7 页