GB/T 14028-2018《半导体集成电路 模拟开关测试方法》
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。br />本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。
标准信息:
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- 中文名称:半导体集成电路 模拟开关测试方法
- 英文名称:Semiconductor integrated circuits-Measuring method of analogue switch
- 标准分类:产品方法标准
- 国际标准分类:31.200
- 中国标准分类:L56
- 标准前缀:GB/T
- 标准语言:中文
- 标准状态:现行
- 发布单位:中国国家标准化管理委员会、中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
- 发布日期:2018-03-15
- 废止日期:无
- 实施日期:2018-08-01
- 页数:28 页
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