SJ/T 11769-2020《电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求》
本标准规定了电子元器件1Hz~300kHz频率范围内的燥声参数测试方法和相应的测试系统的通用要求。
标准信息:
- 免责声明:本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式标准出版物为准。本网站所提供的电子文本均来自于互联网,其版权由其发行商所有,仅供个人学习、研究之用,未经授权,禁止复制、发行、汇编、翻译等。
- 中文名称:电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求
- 英文名称:General requirements for low-frequency noise parameters measurement method of electronic components and devices
- 标准分类:通用基础标准
- 国际标准分类:31.020
- 中国标准分类:L04
- 标准前缀:SJ/T
- 标准状态:现行
- 发布单位:中华人民共和国工业和信息化部
- 发布日期:2020-12-09
- 废止日期:无
- 实施日期:2021-04-01
- 页数:16 页
第1页
第2页
第3页
第4页
第5页
第6页
第7页
第8页
第9页
第10页